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电子学研究所GNET数据采集培训

返回列表来源:邑成 发布日期: 2025.12.23 浏览:0

项目情况:

在中国科学院电子学研究所,培训美国GNET8通道数据采集系统,可测信号:应变片,应变式传感器,电压,电流,温

度传感器(热电偶,铂电阻),电位计式传感器。


测试亮点:

1.  应变,电压等信号,测试信号稳定,精度高
2.  单台主机测量电压测量总采样率,高达166kHz,满足动静态测试需求
3.  定制桥盒组,可焊接,可扭紧,方便接线


系统配置:


1.  美国GNET8通道数据采集主机:
2.  日本共和高温胶水PC-600  
3.  日本共和高温应变片:KFH-2-120-C1-16
4.  接线桥盒

                    


现场图片:


测试综述:

1.  美国GNET数据采集系统,信号稳定,操作界面简洁方便,每个通道都可以测量应(1/4桥,半桥,全桥),电位计,Pt100温度传感器,J/K/T/E/R/S型热电偶传感器,电压。满足基本所有传感器测试需求
2.  对客户进行了专业的仪器培训将客户培训到独立完成测试。
结论:完全满足用户需求。


本文标签:数据采集 薄膜压力 应变片 传感器 日本共和KYOWA应变片 上一篇:上海某电子公司MFF培训 下一篇:已经是最后一篇了